產品中心
白光干涉薄膜厚度測量儀Delta
儀器簡介
白光干涉薄膜厚度測量儀Delta利用薄膜干涉光學原理，對薄膜進行厚度測量及分析。用從深紫外到近紅外可選配的寬光譜光源照射薄膜表面，探頭同位接收反射光線。白光干涉薄膜厚度測量儀Delta根據反射回來的干涉光，用反復校準的算法快速反演計算出薄膜的厚度。測量范圍1nm-3mm，可同時完成多層膜厚的測試。對于100nm以上的薄膜，還可以測量n和k值。
產品屬性
- 品牌：貝拓
- 產地：廣東
- 波長范圍：900-1700nm
- 厚度范圍：10um-3mm
TF200光學膜厚儀
儀器簡介
TF200薄膜厚度測量系統利用薄膜干涉光學原理，對薄膜進行厚度測量及分析。用從深紫外到近紅外可選配的寬光譜光源照射薄膜表面，探頭同位接收反射光線。TF200根據反射回來的干涉光，用反復校準的算法快速反演計算出薄膜的厚度。測量范圍1nm-3mm，可同時完成多層膜厚的測試。對于100nm以上的薄膜，還可以測量n和k值。
產品屬性
- 品牌：Betop
- 型號：TF200
- 產地：中國
- 價格：面議
共聚焦顯微拉曼光譜儀
儀器簡介
三激發波長全自動切換
高靈敏度光譜儀焦長
實現軟件控制全自動切換
采用真正的針孔共聚焦
光學顯微鏡采用科勒照明方式
高靈敏度光譜儀焦長
實現軟件控制全自動切換
采用真正的針孔共聚焦
光學顯微鏡采用科勒照明方式
產品屬性
- 品牌：貝拓科學
- 型號：CVRam HR300
- 產地：中國廣東
- 價格：面議
自動反射率測量儀ATR1000
儀器簡介
ATR1000自動透反射率測量儀支持反射率測量，并給出光譜曲線，用于實時測試樣品的紫外到近紅外波段（最寬可達200-2500nm）的和反射率。ATR1000采用一體化設計，采用內置固定光纖，光路穩定，樣品倉可以完全封閉，把外界光的影響降到最低。軟件操作簡單，可通過設置閾值自動判斷測試結果是否合格，廣泛應用于光學玻璃、半導體等行業，測試毛糙樣品時，可按照客戶要求配備積分球。
產品屬性
- 品牌：貝拓
- 型號：ATR1000
- 產地：廣東
- 價格：面議
高溫接觸角測量儀HTC2300W
儀器簡介
接觸角（ Contact angle)指在液體-固體-氣體（或另一液體）相接觸時，由它們三相界面交點處向液體-氣體（或另一液體）界面做切線經過液體與固體表面的夾角，用θ表示。
高溫接觸角（ High temperature contact Angle）指高溫下不同熔體與相應基體間的接觸角，表征了高溫下不同熔體與相應基體間的潤濕情況。
高溫接觸角（ High temperature contact Angle）指高溫下不同熔體與相應基體間的接觸角，表征了高溫下不同熔體與相應基體間的潤濕情況。