返回列表頁(yè)
2020-11-27 13:51
TF200薄膜厚度測(cè)量系統(tǒng)利用薄膜干涉光學(xué)原理，對(duì)薄膜進(jìn)行厚度測(cè)量及分析。用從深紫外到近紅外可選配的寬光譜光源照射薄膜表面，探頭同位接收反射光線。TF200根據(jù)反射回來的干涉光，用反復(fù)校準(zhǔn)的算法快速反演計(jì)算出薄膜的厚度。測(cè)量范圍1nm-3mm，可同時(shí)完成多層膜厚的測(cè)試。對(duì)于100nm以上的薄膜，還可以測(cè)量n和k值。
尊敬的客戶您好，
非常感謝您訪問接觸角測(cè)量?jī)x_表界面張力儀__拉曼光譜儀__X射線衍射儀__X射線熒光光譜儀__納米粒度儀廠家-廣州貝拓科學(xué)技術(shù)有限公司官方網(wǎng)站，如果您有任何需求或者咨詢都可以留言告訴我們，我們的客服將會(huì)盡快給您回復(fù)。