納米粒度及Zeta電位分析儀DLS100是集成納米膠體溶液的顆粒粒度，及其Zeta電位分析的高性能光學(xué)檢測(cè)裝置。Zeta電位納米粒度儀DLS100的原理分別是：動(dòng)態(tài)光散射（Dynamic Light Scattering，DLS）技術(shù)，與電泳光散射（Electrophoretic Light Scattering, ELS）技術(shù)。應(yīng)用上述技術(shù)，可以實(shí)時(shí)、準(zhǔn)確地檢測(cè)膠體溶液中納米顆粒的粒徑及粒徑分布，以及Zeta電位等參數(shù)，可廣泛的應(yīng)用于生物、醫(yī)藥、化工、食品、材料制備和污水處理等領(lǐng)域的基礎(chǔ)研究、質(zhì)量分析和質(zhì)量控制等應(yīng)用。
產(chǎn)品特點(diǎn)
高速、準(zhǔn)確的檢測(cè)能力
高性能自適應(yīng)光子相關(guān)器，提高檢測(cè)的實(shí)時(shí)性、準(zhǔn)確性和重復(fù)性
自適應(yīng)光源強(qiáng)度調(diào)節(jié)，保證測(cè)量裝置檢測(cè)性能的穩(wěn)定性和重復(fù)性
高靈敏度和穩(wěn)定度的光子計(jì)數(shù)級(jí)光電信號(hào)檢測(cè)能力，
可靠的光纖耦合裝置，高效地增加DLS和ELS信號(hào)的信噪比，提高測(cè)量穩(wěn)定性
準(zhǔn)確智能的頻譜分析算法，提高ELS的測(cè)量精度
高穩(wěn)定性的光路與電路設(shè)計(jì)：消除雜散光和噪聲信號(hào)的影響，結(jié)果穩(wěn)定性和重復(fù)性高
應(yīng)用領(lǐng)域
磨料、化學(xué)機(jī)械拋光液、陶瓷、粘土、涂料、污染監(jiān)測(cè)、化妝品、乳劑、食品、液體工作介質(zhì)/油、墨水、? 乳液、色漆、制藥粉體、顏料、聚合物、蛋白質(zhì)大分、二氧化硅以及自組裝TiO2納米管(TNAs)等
納米粒度及Zeta電位分析儀DLS100技術(shù)參數(shù)
粒徑測(cè)量范圍：0.7-10um(動(dòng)態(tài)光散射法)；
Zeta電位測(cè)試范圍：-500~﹢500mV；
準(zhǔn)確性與重復(fù)性：優(yōu)于2%（國家標(biāo)準(zhǔn)樣品 D50 值）；
檢測(cè)角度：90°、18°；
樣品池：塑料樣品池、Zeta電位樣品池；
溫控范圍：10℃-50℃，精度±0.1℃，半導(dǎo)體制冷；
激光光源：可調(diào)半導(dǎo)體激光器，波長(zhǎng)635nm、35mW；
檢測(cè)器：光子計(jì)數(shù)級(jí)的光電倍增管（PMT）；
數(shù)字相關(guān)器：集成的光子相關(guān)器，雙通道。1000 通道，最小采樣時(shí)間 100ns；
納米粒度儀軟件：納米粒度儀分析軟件是用于測(cè)試納米粒徑及粒徑分布的全新軟件，采用動(dòng)態(tài)光散射技術(shù)及電泳光散射技術(shù)，可以實(shí)時(shí)、準(zhǔn)確地檢測(cè)膠體溶液中納米顆粒的粒徑及粒徑分布，以及Zeta電位等參數(shù)。
計(jì)算機(jī)接口;USB3.0及以上。
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